衍射仪和散射系统
- 产品品牌: 布鲁克 Bruker
- 产品产地: 德国
- 应用领域: 水泥业、材料属性、矿物与采矿、石油和天然气等
- 产品简介: 是极佳的多功能X射线衍射仪平台,可为您提供业内领先的技术组件，旨在帮助您对从粉末、多晶材料到外延多层薄膜的各种材料进行结构表征
布鲁克公司全新的D8 DISCOVER X射线衍射仪，材料研究领域的先进X射线衍射系统。采用创造性的达芬奇设计，配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件，附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面内掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。
主要应用
高分辨XRD(HRXRD)
外延多层膜厚度
晶胞参数
晶格错配
组份
应变及弛豫过程
横向结构
镶嵌度
X射线反射率(XRR)
薄膜厚度
组份
粗造度
密度
孔隙度
倒易空间图谱(RSM)
晶胞参数
晶格错配
组份
取向
弛豫
横向结构
面内掠入射衍射 (in-plane GID)
掠入射小角X射线散射(GISAXS)
晶胞参数
晶格错配
横向关联性
取向
物相组成
孔隙度
应力和织构分析
取向分布
取向定量
应变
外延关联
硬度
物相鉴定(Phase ID)
物相组成
d值确定
择优取向
晶格对称性
晶粒大小
D8 DISCOVER 规格 | ||
| 规格 | 优势 |
TWIST-TUBE | 轻松在点焦点和线焦点之间切换 可用阳极材料：Cr、Cu、Mo、Ag 最高功率和灯丝：最高3 kW，取决于阳极材料（0.4 x 16mm²） 专利：EP 1 923 900 B1 | 快速改变波长，以理想地匹配不同应用
可以最快的速度在线焦点和点焦点之间极快切换，因此扩展了应用范围，并且可在更短的时间内，获得更好的结果。 |
IµS微焦源 | 功率负载：最高50 W，单相功率； MONTEL和MONTEL Plus光学器件：结合了平行镜和聚焦镜； 光束尺寸：低至180 x 180 µm² 镜出口最大积分通量：8 x 10⁸ cps； 光束发散度：低至0.5 mrad | 毫米大小的光束：高亮度和超低背景； 绿色环保设计：低功耗、无耗水、使用寿命更长； 优化光束形状和发散，以获得最佳结果；
|
Turbo X射线源（TXS） | 线焦点：0.3x3mm²； 焦点亮度：6 kW /mm²； 阳极材料：Cu、Co、Cr、Mo； 最大电压50 kV，功率取决于阳极材料：Cr ：3.2 kW；Cu / Mo：5.4 kW；Co：2,8 kW； 预对准钨丝 | 强度是标准陶瓷X射线源的5倍； 是线焦点和点焦点应用的理想之选； 预对准的灯丝支持快速更换，极大地降低了对重新对准的要求。 |
TRIO Optics | 软件按钮切换： 电动发散狭缝（Bragg-Brentano）； 高强度Ka1,2平行光束； 高分辨率Ka1平行光束； 专利：US10429326、US6665372、US7983389 | 可在多达6种不同的光束几何之间进行全自动化电动切换，无需人工干预； 是所有类型的样品的理想之选，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延） |
高分辨率单色器 | 对称几何和非对称几何中的Ge（220）和Ge（004）反射； 2-b和4-b（Bartels型）单色器； 利用SNAP.LOCK技术，进行免对准安装。 | 在最佳分辨率与强度平衡方面，为您提供广泛选择，助您获取最佳结果； 可快速更换单色器，针对不同样品进行优化 |
D8测角仪 | 带独立步进电机和光学编码器的双圆测角仪 | 布鲁克独有的准直保证，确保了无与伦比的准确性和精确度； 绝对免维护的驱动机构/齿轮装置，终身润滑 |
UMC样品台
| 样品台系列 x、y：最大+/- 150 mm的样品移动； z：最大移动50mm； Phi：旋转不受限制； Psi：倾斜度最高55°； 最大承载重量（中心位置）：50kg | 在样品的重量和尺寸方面，拥有无与伦比的优势； 可实现大型定制样品室的实施 |
Centric Eulerian Cradle (CEC) | 样品台：5个自由度 x、y：+/- 40 mm样品移动 z：高度对准 Phi：360°旋转 Psi：-11°-98° 最高承载重量：1kg 提供各种样品台附件。 | 侧面倾斜时可进行应力和织构测量，以获取更高的精度。 （x，y）：自动映射功能。 电动倾斜台：可精确调整表面。 粉末或毛细管旋转器：可用于粉末衍射。 Bayonette样品台支持器：可与其他样品台快速、可重复地互换。 |
Pathfinder Plus Optics | 软件按钮切换： 电动狭缝 2-b Ge分析晶体 集成自动吸收器 | 可在两种不同的光学器件之间全自动地进行电动切换，无需人工干预。 保持了LYNXEYE探测器的完整视野。 利用吸收器，确保了测得数据的线性。 |
LYNXEYE XE-T | 能量分辨率： 8 KeV时，<380 eV 检测模式：0D、1D、2D 波长：Cr、Co、Cu、Mo和Ag 专利：EP1647840、EP1510811、US20200033275 | 无需Kß过滤器和二级单色器 铜辐射即可100％过滤铁荧光 速度比传统探测器系统快450倍 Bragg2D：使用发散的初级线束收集2D数据 独一无二的探测器保修：交货时绝无不良通道 |
EIGER2 | Dectris Ltd.开发的基于混合光子计数技术的新一代探测器，支持多种模式（0D / 1D / 2D）。 | 在分步扫描、连续扫描和高级扫描模式中无缝集成0D、1D和2D检测。 符合人体工程学的免对准探测器旋转功能，可优化γ或2Ɵ角度范围 使用完整的探测器视野、免工具全景衍射光束光学系统 连续可变的探测器位置，以平衡角度范围和分辨率 |
非环境 | 温度：范围从~-4 K到~2500 K 压力：10-⁴mbar至100 bar 湿度：5％至95％ | 在环境和非环境条件下进行调查 凭借DIFFRAC.DAVINCI，轻松更换样品台 |
相关应用图片
1）在DIFFRAC.LEPTOS中,使用sin2psi法,用Cr辐射进行测量,对钢构件的残余应力进行分析。
2）使用DIFFRAC.EVA,测定小区域结构特性。通过积分2D图像,进行1D扫描,来进行定性相分析和微观结构分析。
3）候选材料鉴别(PMI)最为常见,这是因为其对原子结构十分灵敏,而这无法通过元素分析技术实现。
4）在DIFFRAC.EVA中,进行半定量分析,以显示孔板上不同相的浓度。
5）在DIFFRAC.WIZARD中配置温度曲线并将其与测量同步，然后可以在DIFFRAC.EVA中显示结果。
6）在DIFFRAC.SAXS中，对EIGER2 R 500K通过2D模式收集的NIST SRM 8011 9nm金纳米颗粒进行粒度分析。
7）在DIFFRAC.EVA中，对塑料薄膜进行WAXS测量分析。然后塑料纤维的择优取向便显而易见了。
8）在DIFFRAC.TEXTURE中，使用球谐函数和分量方法,生成极图、取向分布函数(ODF)和体积定量分析。
9）在DIFFRAC.LEPTOS中，对多层样品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度进行XRR分析。
10）在DIFFRAC.LEPTOS中,对多层样品进行XRR分析，测定其薄膜厚度、晶格失配和混合晶体浓度。
11）在DIFFRAC.LEPTOS中,进行晶片分析:分析晶片的层厚度和外延层浓度的均匀性。
12）凭借RapidRSM技术,您将能在最短的时间内,测量大面积的倒易空间。您可以在DIFFRAC.LEPTOS中,进行倒易点阵转换和分析。